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实现大功率半导体激光器规模化老化及寿命测试-老化测试房

作者:佚名 文章来源:本站原创 点击数:491 更新时间:2015-12-8 上午 10:52:16

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实现大功率半导体激光器规模化老化及寿命测试2015-11-2202:33:34来源:(西安)分享到:(原标题:实现大功率半导体激光器规模化老化及寿命测试)

本报讯(记者杨斌鹄)近日,西安光机所研制成功国内第一台具备功率、波长、光谱、偏振监测的多功能高功率半导体激光器老化和寿命测试系统,并于日前通过中国科学院条件保障与财务局组织的验收。


多功能高功率半导体激光器老化和寿命测试系统适合于CW和QCW模式下工作的单管式、传导冷却单阵列式、微通道水冷单阵列式高功率半导体激光器功率、波长、光谱和偏振度的实时监控及老化和寿命测试,可进行各参数自动化测试和数据处理,测试速度快,效率高,借助此设备,可实现大功率半导体激光器规模化老化及寿命测试。中国科学院条财局验收专家组现场对性能指标进行了检测,审阅了相关文件资料,专家组一致认为,与国际同类设备相比,西安光机所研制的高功率半导体激光器老化和寿命测试系统测试功能更加全面系统,部分指标优于国际同类设备。


作者:杨斌鹄

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